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Gemeinsame Publikation mit Technion

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2000


Co silicide formation on epitaxial Si1-yCy/Si (001) layers. / Roichman, Y.; Berner, A.; Brener, R. et al.
in: Journal of applied physics, Jahrgang 87, Nr. 7, 01.04.2000, S. 3306-3312.

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1999


Crystallization of amorphous Si0.5Ge0.5 films studied by means of in-situ X-ray diffraction and in-situ transmission electron microscopy. / Edelman, F.; Raz, T.; Komem, Y. et al.
in: Philosophical Magazine A: Physics of Condensed Matter, Structure, Defects and Mechanical Properties, Jahrgang 79, Nr. 11, 01.11.1999, S. 2617-2628.

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Stability and transport properties of microcrystalline Si1-xGex films. / Edelman, F.; Raz, T.; Komem, Y. et al.
in: THIN SOLID FILMS, Jahrgang 337, Nr. 1-2, 11.01.1999, S. 152-157.

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1998


Two-tier symmetry-breaking model of patterns on a catalytic surface. / Pismen, L. M.; Imbihl, R.; Rubinstein, B. Y. et al.
in: Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics, Jahrgang 58, Nr. 2, 01.08.1998, S. 2065-2070.

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1997


Modelling of E. Coli fermentations: comparison of multicompartment and variable structure models. / Tartakovsky, B.; Sheintuch, M.; Hilmer, J. M. et al.
in: Bioprocess Engineering, Jahrgang 16, Nr. 6, 05.1997, S. 323-329.

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1996


Application of Scanning Fluorometry for Monitoring of a Fermentation Process. / Tartakovsky, B.; Sheintuch, M.; Hilmer, J. M. et al.
in: Biotechnology progress, Jahrgang 12, Nr. 1, 1996, S. 126-131.

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